TESEQ NSG 3060瞬態(tài)傳導(dǎo)抗擾度模擬器
TESEQ NSG 3060瞬態(tài)傳導(dǎo)抗擾度模擬器采用模塊化結(jié)構(gòu)的創(chuàng)新設(shè)計(jì)既可以滿足基本測(cè)試的需求，也能通過擴(kuò)展功能來(lái)滿足要求更高級(jí)的檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室的測(cè)試需要。TESEQ NSG 3060瞬態(tài)傳導(dǎo)抗擾度模擬器完全滿足CE 標(biāo)識(shí)和ANSI C62.41標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試要求而設(shè)計(jì)。一臺(tái)標(biāo)準(zhǔn)的NSG 3060包括對(duì)綜合波、振鈴波和EFT電快速瞬變脈沖群以及PQT電壓跌落的測(cè)試。其多樣性的擴(kuò)展能力使得它能夠靈活配置來(lái)適應(yīng)更廣闊的應(yīng)用場(chǎng)合。
利用TESEQ NSG 3060瞬態(tài)傳導(dǎo)抗擾度模擬器獨(dú)有的“主－從”結(jié)構(gòu)概念，新的脈沖發(fā)生器模塊可簡(jiǎn)便快速地增加到原來(lái)的系統(tǒng)中。這種技術(shù)允許利用存儲(chǔ)在從控制器上的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)和校正因子對(duì)單個(gè)脈沖模塊分別進(jìn)行校準(zhǔn)。新模塊的安裝非常簡(jiǎn)便，無(wú)需返回整個(gè)系統(tǒng)對(duì)其進(jìn)行校準(zhǔn)。
采用先進(jìn)技術(shù)的組件，TESEQ NSG 3060瞬態(tài)傳導(dǎo)抗擾度模擬器在開關(guān)切換技術(shù)和相位精度方面建立了新的標(biāo)準(zhǔn)，并且超越了現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)的要求。采用功能強(qiáng)大的處理器使得NSG 3060系統(tǒng)能夠完全滿足ANSI C62.41標(biāo)準(zhǔn)中所規(guī)定的獨(dú)特的耦合要求。ANSI C62.41標(biāo)準(zhǔn)要求脈沖幅值要隨著交流電源脈沖相位、電壓的幅值的變化而變化。
超高對(duì)比度的7”彩色觸摸屏是TESEQ NSG 3060瞬態(tài)傳導(dǎo)抗擾度模擬器系列里邊最引人注目的特點(diǎn)。依據(jù)要求，可利用集成在TESEQ NSG 3060瞬態(tài)傳導(dǎo)抗擾度模擬器上的鍵盤或帶有按鍵的滾輪進(jìn)行靈敏度調(diào)節(jié)。友好的圖形顯示界面使得測(cè)試速度加快。每個(gè)參數(shù)值清晰可見，所有的設(shè)置可以通過大尺寸的觸摸式輸入按鈕進(jìn)行快速選擇和修改。不需要用筆，就可以快速簡(jiǎn)單的編寫程序。可輕易創(chuàng)建一個(gè)多步測(cè)試程序并且可方便地更改該多步測(cè)試程序的測(cè)試步驟或參數(shù)。
選擇“專家模式”允許用戶在測(cè)試過程中，利用滾輪手動(dòng)地更改參數(shù)，這是一種激活關(guān)鍵閾值的快速有效的方法。利用集成在TESEQ NSG 3060瞬態(tài)傳導(dǎo)抗擾度模擬器的TA(測(cè)試程序)功能，只要少數(shù)幾個(gè)“點(diǎn)擊”便可觸發(fā)標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試，從而可快速可靠地獲得測(cè)試結(jié)果。利用簡(jiǎn)單易用的SD記憶卡讀卡器，固件可快速下載，用戶指定的測(cè)試將會(huì)完整的保存下來(lái)。一般情況下，存儲(chǔ)空間是足夠大的。在存儲(chǔ)空間不夠用的情況下，可用商用SD記憶卡替換，現(xiàn)存測(cè)試文件可很方便地拷貝到容量更大的SD記憶卡。
