產(chǎn)品概述
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EM5030/EM5030LFS列探頭組包含了7個(gè)專門用來測試磁場（H）探頭，它有效地 屏蔽了電場干擾（E）,主要用于電磁兼容整改時(shí)定位干擾源的近場探頭。EM5030的頻率 范圍是30MHz-3GHz,共4種探頭形狀；EM5030LF的頻率范圍是9kHz-50MHz,共 3種探頭形狀。
EM5030E系列探頭組包含了2個(gè)專門用來測試電場（E）的探頭，覆蓋頻率范圍為 30MHz到3GHz,主要應(yīng)用于查找電場干擾源，除了探頭其他部分均為屏蔽設(shè)計(jì)。
探頭通過50Q的電纜直接與頻譜儀或者示波器連接。當(dāng)產(chǎn)品的輻射或傳導(dǎo)干擾超過標(biāo)準(zhǔn)時(shí), 可用近場探頭來尋找產(chǎn)品中哪個(gè)元件或電路產(chǎn)生了該頻率的干擾，能夠檢測模塊之間的耦合 通道以及評估系統(tǒng)內(nèi)信號切換速率、RF電壓等。當(dāng)干擾信號比較弱時(shí)，可以配合本公司的 EM5020A（20dB增益）或者EM5020B（30dB增益）前置放大器可以提高系統(tǒng)測試靈敏度。
應(yīng)用
EMIl輻射干擾源定位
磁場強(qiáng)度檢測
使用示意圖：
產(chǎn)品描述
產(chǎn)品說明
附件說明
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